首頁 招標訊息半導體薄膜特性量測設備

半導體薄膜特性量測設備

 

發佈日期:4/28/2017

 

機關代碼 3.10.39
機關名稱 國立高雄應用科技大學
單位名稱 國立高雄應用科技大學
機關地址 807高雄市三民區建工路415號
聯絡人 余麗娟
聯絡電話 (07)3814526分機2652
傳真號碼 (07)3921486
電子郵件信箱 ylc@cc.kuas.edu.tw



料 標案案號 C106001116
標案名稱 半導體薄膜特性量測設備

 

其他招標訊息

 

 

 

 

TOP