三朋儀器股份有限公司

SANPANY INSTRUMENTS CO., LTD.

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手提式光學輪廓/粗糙度量測儀

 

型號: SURFILER

分類: 光電量測模厚 > 測量儀器 > 奈米3D量測儀

 

描述: 1.適用於:滾 軸,圓筒,平面輪廓/粗糙度量測
2.量測項目: 2D/3D表面輪廓,粗糙度,膜厚,平面度
磨耗體積,曲率半徑等表面參數量測
3.量測面積: 250x250 um,有stitched功能可量 測到
10 x 30 mm²,橫向解析: >1 um
4.垂直量測範圍: 150um, 解析: >1nm
5.重量:約5kg
6. 尺寸: 400 x 120 x 160 mm

 

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