產品列表
微細形狀測定儀
型號: ET4000
描述: 1.具有精密真直度,提高再現性
2. 採用直動式檢出器,無 ARC 誤差問題
3. 具有各種尺寸 Table,客戶可指定尺寸
4. 測定再現性,1 Sigma 5A° 以下
5. 適合半導體100A°~100μm 薄 膜段差量測
產品規格
型號: ET4000
描述: 1.具有精密真直度,提高再現性
2. 採用直動式檢出器,無 ARC 誤差問題
3. 具有各種尺寸 Table,客戶可指定尺寸
4. 測定再現性,1 Sigma 5A° 以下
5. 適合半導體100A°~100μm 薄 膜段差量測